Introducción a los métodos de ensayos no destructivos de control de calidad de los materiales
I tiakina i:
| Kaituhi rangatōpū: | Instituto Nacional de Técnica Aeroespacial Esteban Terradas (Author) |
|---|---|
| Hōputu: | Pukapuka |
| Reo: | Pāniora |
| I whakaputaina: |
Madrid
INTA
1980
|
| Putanga: | 3a. ed |
| Ngā marau: | |
| Ngā Tūtohu: |
Tāpirihia he Tūtohu
Kāore He Tūtohu, Me noho koe te mea tuatahi ki te tūtohu i tēnei pūkete!
|
Ngā tūemi rite
Nondestructive methods for material property determination
mā: Ruud, Clay Olaf, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1984)
mā: Ruud, Clay Olaf, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1984)
Ensayos no destructivos: métodos aplicables a la construcción
mā: Tobio, J. M
I whakaputaina: (1967)
mā: Tobio, J. M
I whakaputaina: (1967)
Ensayos no destructivos métodos superficiales, introducción a la defectología
mā: Maturana Jarpa, Luis
I whakaputaina: (1980)
mā: Maturana Jarpa, Luis
I whakaputaina: (1980)
II seminario de post-grado en tecnología de calidad, ensayos no destructivos
I whakaputaina: (1982)
I whakaputaina: (1982)
Ensayo de materiales y control de defectos en la industria del metal
mā: Stüdemann, Hans
I whakaputaina: (1968)
mā: Stüdemann, Hans
I whakaputaina: (1968)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
I whakaputaina: (1999)
I whakaputaina: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
I whakaputaina: (1999)
I whakaputaina: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999, ISO 2859-2
I whakaputaina: (1999)
I whakaputaina: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999, ISO 2859-3
I whakaputaina: (1999)
I whakaputaina: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2237. Of1999
I whakaputaina: (1999)
I whakaputaina: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2236. Of1999, ISO 2859-0
I whakaputaina: (1999)
I whakaputaina: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 1479.Of79: productos alimenticios a granel - métodos y procedimientos de muestreo
I whakaputaina: (1979)
I whakaputaina: (1979)
Control de calidad de los hormigones de cemento. 2§ Análisis estadístico de ensayos de laboratorios
mā: Rojas I., Sergio
I whakaputaina: (1960)
mā: Rojas I., Sergio
I whakaputaina: (1960)
Elementos de muestreo
mā: Scheaffer, Richard L
I whakaputaina: (1987)
mā: Scheaffer, Richard L
I whakaputaina: (1987)
Sampling techniques
mā: Cochran, William Gemmell
I whakaputaina: (1963)
mā: Cochran, William Gemmell
I whakaputaina: (1963)
Teoría y métodos de la investigación social
mā: Galtung, Johan
I whakaputaina: (1978)
mā: Galtung, Johan
I whakaputaina: (1978)
Control estadístico de calidad
mā: Grant, Eugene Lodewick, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1996)
mā: Grant, Eugene Lodewick, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1996)
Investigación de operaciones: métodos y problemas
mā: Sasieni, Maurice W, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1967)
mā: Sasieni, Maurice W, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1967)
Técnicas de investigación social: el análisis de correspondencias, teoría y práctica
mā: Cornejo Alvarez, José Manuel
I whakaputaina: (1988)
mā: Cornejo Alvarez, José Manuel
I whakaputaina: (1988)
Control estadístico de calidad y Seis Sigma
mā: Gutiérrez Pulido, Humberto, me ētahi atu.
I whakaputaina: (2004)
mā: Gutiérrez Pulido, Humberto, me ētahi atu.
I whakaputaina: (2004)
Análisis estadístico para datos categóricos
mā: Ato García, Manuel, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1996)
mā: Ato García, Manuel, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1996)
Control estadístico de la calidad y Seis Sigma
mā: Gutiérrez Pulido, Humberto, me ētahi atu.
I whakaputaina: (2013)
mā: Gutiérrez Pulido, Humberto, me ētahi atu.
I whakaputaina: (2013)
Muestreo de encuestas
mā: Kish, Leslie
I whakaputaina: (1972)
mā: Kish, Leslie
I whakaputaina: (1972)
Investigación de mercados: un enfoque aplicado
mā: Kinnear, Thomas C, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1993)
mā: Kinnear, Thomas C, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1993)
Investigación de mercados: un enfoque aplicado
mā: Malhotra, Naresh K.
I whakaputaina: (2004)
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I whakaputaina: (2004)
Teoría y problemas de electromagnetismo
mā: Edminister, Joseph A
I whakaputaina: (1981)
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I whakaputaina: (1981)
Fundamentos de aplicaciones en electromagnetismo
mā: Ulaby, Fawwaz T
I whakaputaina: (2007)
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I whakaputaina: (2007)
Planeamiento y ejecución de encuestas
mā: Miranda, Oscar
I whakaputaina: (1980)
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I whakaputaina: (1980)
Applied statistics for engineers
mā: Wilson, C
I whakaputaina: (1972)
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I whakaputaina: (1972)
Técnica de la estadística social
mā: McCormick, Thomas Carson
I whakaputaina: (1954)
mā: McCormick, Thomas Carson
I whakaputaina: (1954)
Toma y tratamiento de muestras
mā: Cámara, Carmen, me ētahi atu.
I whakaputaina: (2004)
mā: Cámara, Carmen, me ētahi atu.
I whakaputaina: (2004)
El control de calidad en la empresa
mā: Yu Chuen Tao, Luis
I whakaputaina: (1987)
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I whakaputaina: (1987)
Norma Chilena Oficial NCh 1171-1. Of2001
I whakaputaina: (2001)
I whakaputaina: (2001)
Norma Chilena Oficial NCh 409-2. Of2004
I whakaputaina: (2004)
I whakaputaina: (2004)
Electromagnetismo
mā: Hammond, P
I whakaputaina: (1968)
mā: Hammond, P
I whakaputaina: (1968)
The electromagnetics problem solver
mā: Fogiel, Max
I whakaputaina: (1983)
mā: Fogiel, Max
I whakaputaina: (1983)
Solutions manual for elements of electromagnetics
mā: Sadiku, Matthew N. O
I whakaputaina: (1989)
mā: Sadiku, Matthew N. O
I whakaputaina: (1989)
Classical theory of electromagnetism
mā: Di Bartolo, Baldassare
I whakaputaina: (1991)
mā: Di Bartolo, Baldassare
I whakaputaina: (1991)
Elements of electromagnetics.
mā: Sadiku, Matthew N. O
I whakaputaina: (2018)
mā: Sadiku, Matthew N. O
I whakaputaina: (2018)
Control estadístico de calidad
mā: Lourenco, Ruy de C. B.
I whakaputaina: (1974)
mā: Lourenco, Ruy de C. B.
I whakaputaina: (1974)
Ngā tūemi rite
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Nondestructive methods for material property determination
mā: Ruud, Clay Olaf, me ētahi atu.
I whakaputaina: (1984) -
Ensayos no destructivos: métodos aplicables a la construcción
mā: Tobio, J. M
I whakaputaina: (1967) -
Ensayos no destructivos métodos superficiales, introducción a la defectología
mā: Maturana Jarpa, Luis
I whakaputaina: (1980) -
II seminario de post-grado en tecnología de calidad, ensayos no destructivos
I whakaputaina: (1982) -
Ensayo de materiales y control de defectos en la industria del metal
mā: Stüdemann, Hans
I whakaputaina: (1968)