Process engineering analysis in semiconductor device fabrication

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Middleman, Stanley (autor), Hochberg, Arthur K (Autor)
Formato:	Libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Nueva York McGraw Hill 1993
Colección:	Chemical Engineering Series
Materias:	Circuitos integrados Construcción Diseño Semiconductores Termistores Transistores
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