Skip to content
VuFind
Prijava
Jezik
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Vsa polja
Naslov
Avtor
Tema
Signatura
ISBN/ISSN
Oznaka
Išči
Napredno
Norma Chilena Oficial NCh 2239...
Citiraj
Pošljite SMS
Pošljite email
Natisni
Izvozi zadetek
Izvozi v RefWorks
Izvozi v EndNoteWeb
Izvozi v EndNote
Dodaj v priljubljene
Permanent link
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999, ISO 2859-3
Shranjeno v:
Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica:
Instituto Nacional de Normalización
(Author)
Format:
Knjiga
Jezik:
španščina
Izdano:
Santiago
INN
1999
Teme:
Control de calidad
Normalización
Muestreo
Oznake:
Označite
Brez oznak, prvi označite!
Zaloga
Opis
Komentarji
Podobne knjige/članki
Knjižničarski pogled
Opis
Fizični opis:
25 p
Podobne knjige/članki
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Izdano: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999, ISO 2859-2
Izdano: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2236. Of1999, ISO 2859-0
Izdano: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2237. Of1999
Izdano: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Izdano: (1999)