İçeriği atla
VuFind
Giriş
Dil
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文(繁體)
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
Tüm Alanlar
Materyal Adı
Yazar
Konu
Yer Numarası
ISBN/ISSN
Etiket
Ara
Gelişmiş
Norma Chilena Oficial NCh 2239...
Alıntıla
Telefona gönder
E-posta Gönder
Yazdır
Kaydı İhraç Et
İhraç Et RefWorks
İhraç Et EndNoteWeb
İhraç Et EndNote
Favorilerime ekle
Kalıcı bağlantı
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999, ISO 2859-3
Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Müşterek Yazar:
Instituto Nacional de Normalización
(Yazar)
Materyal Türü:
Kitap
Dil:
İspanyolca
Baskı/Yayın Bilgisi:
Santiago
INN
1999
Konular:
Control de calidad
Normalización
Muestreo
Etiketler:
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Erişim Bilgileri
Diğer Bilgiler
Yorumlar
Benzer Materyaller
MARC Görünümü
İlk yorumlayan siz olun!
Yorumunuz
İlk önce giriş yapmalısınız
Benzer Materyaller
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999, ISO 2859-2
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2236. Of1999, ISO 2859-0
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2237. Of1999
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Baskı/Yayın Bilgisi: (1999)