Skip to content
VuFind
登錄
語言
English
Deutsch
Español
Français
Italiano
日本語
Nederlands
Português
Português (Brasil)
中文(简体)
中文（繁體）
Türkçe
עברית
Gaeilge
Cymraeg
Ελληνικά
Català
Euskara
Русский
Čeština
Suomi
Svenska
polski
Dansk
slovenščina
اللغة العربية
বাংলা
Galego
Tiếng Việt
Hrvatski
हिंदी
Հայերէն
Українська
Sámegiella
Монгол
Māori
全文檢索
題名
作者
主題
索引號
ISBN/ISSN
標簽
檢索
高級檢索
Norma Chilena Oficial NCh 2239...
引用
發送短信
推薦此
打印
導出紀錄
導出到 RefWorks
導出到 EndNoteWeb
導出到 EndNote
加到收藏夾
Permanent link
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999, ISO 2859-3
Saved in:
書目詳細資料
企業作者:
Instituto Nacional de Normalización
(Author)
格式:
圖書
語言:
西班牙语
出版:
Santiago
INN
1999
主題:
Control de calidad
Normalización
Muestreo
標簽:
添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
持有資料
實物特徵
您的評論
相似書籍
職員瀏覽
成為第一個發表評論!
您的評論
您必須先登錄
相似書籍
Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
出版: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999, ISO 2859-2
出版: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2236. Of1999, ISO 2859-0
出版: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2237. Of1999
出版: (1999)
Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
出版: (1999)