Modern theory of critical phenomena

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Ma, Shang-keng (autor)
Formaat: Boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: Nueva York Westview 2000
Reeks:Advanced Books Classics
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!