Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Vonesh, Edward F (Autor), Chinchilli, Vernon M (Autor)
Formato: Libro
Lenguaje:español
Publicado: Nueva York Marcel Dekker 1997
Colección:Statistics: Textbooks and Monographs
Materias:
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