Linear and nonlinear models for the analysis of repeated measurements

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Główni autorzy: Vonesh, Edward F (Autor), Chinchilli, Vernon M (Autor)
Format: Książka
Język:hiszpański
Wydane: Nueva York Marcel Dekker 1997
Seria:Statistics: Textbooks and Monographs
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!