Hosmer, D. W., Lemeshow, S., & Sturdivant, R. X. (2013). Applied logistic regression (3a. edición.). John Wiley and Sons.
Citazione stile Chigago Style (17a edizione)Hosmer, David W., Stanley Lemeshow, e Rodney X. Sturdivant. Applied Logistic Regression. 3a. edición. Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Citatione MLA (9a ed.)Hosmer, David W., et al. Applied Logistic Regression. 3a. edición. John Wiley and Sons, 2013.
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