Hosmer, D. W., Lemeshow, S., & Sturdivant, R. X. (2013). Applied logistic regression (3a. edición.). John Wiley and Sons.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Hosmer, David W., Stanley Lemeshow, und Rodney X. Sturdivant. Applied Logistic Regression. 3a. edición. Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Hosmer, David W., et al. Applied Logistic Regression. 3a. edición. John Wiley and Sons, 2013.
Achtung: Diese Zitate sind unter Umständen nicht zu 100% korrekt.