Applied logistic regression.

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Hosmer, David W (autor)
Otros Autores:	Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Formato:	Libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Edición:	3a. edición.
Colección:	Wiley Series in Probability and Statistics.
Materias:	Regresión lineal Análisis numérico
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MARC


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