Applied logistic regression.

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Hosmer, David W (autor)
Kolejni autorzy: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Wydanie:3a. edición.
Seria:Wiley Series in Probability and Statistics.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -

Szczegóły zapisu Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -
Sygnatura: 519.536 HOS 2013
Egzemplarz 5516463 Dostępne Zamów
Komentarze:
  • Catalogado en:20181123