Applied logistic regression.

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Hosmer, David W (autor)
مؤلفون آخرون: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
الطبعة:3a. edición.
سلاسل:Wiley Series in Probability and Statistics.
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!