Applied logistic regression.

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hosmer, David W (autor)
Weitere Verfasser: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Ausgabe:3a. edición.
Schriftenreihe:Wiley Series in Probability and Statistics.
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