Applied logistic regression.

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Κύριος συγγραφέας: Hosmer, David W (autor)
Άλλοι συγγραφείς: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Μορφή: Βιβλίο
Γλώσσα:Αγγλικά
Έκδοση: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Έκδοση:3a. edición.
Σειρά:Wiley Series in Probability and Statistics.
Θέματα:
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!