Applied logistic regression.

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W (autor)
Otros Autores: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Edición:3a. edición.
Colección:Wiley Series in Probability and Statistics.
Materias:
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