Applied logistic regression.

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Détails bibliographiques
Auteur principal: Hosmer, David W (autor)
Autres auteurs: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Édition:3a. edición.
Collection:Wiley Series in Probability and Statistics.
Sujets:
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