Applied logistic regression.

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Hosmer, David W (autor)
מחברים אחרים: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
מהדורה:3a. edición.
סדרה:Wiley Series in Probability and Statistics.
נושאים:
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!