Applied logistic regression.

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Hosmer, David W (autor)
Diğer Yazarlar: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Edisyon:3a. edición.
Seri Bilgileri:Wiley Series in Probability and Statistics.
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!