Applied logistic regression.

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Hosmer, David W (autor)
Altres autors: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Edició:3a. edición.
Col·lecció:Wiley Series in Probability and Statistics.
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -

Detall dels fons de Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -
Signatura: 519.536 HOS 2013
Còpia 5516463 Disponible Fer una reserva
Notes:
  • Catalogado en:20181123