Applied logistic regression.

Enregistré dans:
Détails bibliographiques
Auteur principal: Hosmer, David W (autor)
Autres auteurs: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Format: Livre
Langue:anglais
Publié: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Édition:3a. edición.
Collection:Wiley Series in Probability and Statistics.
Sujets:
Tags: Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -

Informations d'exemplaires de Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -
Cote: 519.536 HOS 2013
Exemplaire 5516463 Disponible Réserver
Notes:
  • Catalogado en:20181123