Applied logistic regression.

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Hosmer, David W (autor)
Другие авторы: Lemeshow, Stanley (autor), Sturdivant, Rodney X (autor)
Формат:
Язык:английский
Опубликовано: Hoboken, Estados Unidos: John Wiley and Sons, 2013.
Редактирование:3a. edición.
Серии:Wiley Series in Probability and Statistics.
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -

Подробно о фондах из Biblioteca Mayor Monseñor Gimpert -
Шифр: 519.536 HOS 2013
Копировать 5516463 Доступно Поместить задолженность
Примечания:
  • Catalogado en:20181123