Instituto Nacional de Normalización. (1999). Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial. Instituto Nacional de Normalización.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Instituto Nacional de Normalización. Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: Procedimientos De Muestreo Para Inspección Por Atributos - Procedimientos De Muestreo Sucesivo Parcial. Santiago, Chile: Instituto Nacional de Normalización, 1999.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Instituto Nacional de Normalización. Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: Procedimientos De Muestreo Para Inspección Por Atributos - Procedimientos De Muestreo Sucesivo Parcial. Instituto Nacional de Normalización, 1999.