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Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial

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Bibliographic Details
Corporate Author:	Instituto Nacional de Normalización (autor)
Format:	Unknown
Language:	English
Published:	Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
Subjects:	Control de calidad Normalización Muestreo
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