Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
সংরক্ষণ করুন:
| সংস্থা লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | অজ্ঞাত |
| ভাষা: | ইংরেজি |
| প্রকাশিত: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| বিষয়গুলি: | |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
প্রথমজন হিসাবে মন্তব্য করুন!