Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Uloženo v:
| Korporativní autor: | |
|---|---|
| Médium: | Neznámo |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Témata: | |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!