Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Saved in:
| Institution som forfatter: | |
|---|---|
| Format: | Ukendt |
| Sprog: | engelsk |
| Udgivet: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Fag: | |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Vær først til at give en kommentarø!