Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Guardado en:
| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Formato: | Desconocido |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Sea el primero en dejar un comentario!