Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Tallennettuna:
| Yhteisötekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Tuntematon |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Lisää ensimmäinen kommentti!