Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Gardado en:
| Autor Corporativo: | |
|---|---|
| Formato: | Unknown |
| Idioma: | inglés |
| Publicado: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Subjects: | |
| Tags: |
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