Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Bewaard in:
| Coauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Onbekend |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
Wees de eerste die reageert!