Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
Zapisane w:
| Korporacja: | |
|---|---|
| Format: | Nieznany |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
Napisz pierwszy komentarz!