Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial

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Bibliografske podrobnosti
Korporativna značnica: Instituto Nacional de Normalización (autor)
Format: Neznan
Jezik:angleščina
Izdano: Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
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