Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Müşterek Yazar: Instituto Nacional de Normalización (autor)
Materyal Türü: Bilinmiyor
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!