Norma Chilena Oficial NCh 2239. Of1999 ISO 2859-3: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - procedimientos de muestreo sucesivo parcial
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| 格式: | 未知 |
| 語言: | 英语 |
| 出版: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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