Instituto Nacional de Normalización. (1999). Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ). Instituto Nacional de Normalización.
Citace podle Chicago (17th ed.)Instituto Nacional de Normalización. Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: Procedimientos De Muestreo Para Inspección Por Atributos - Planes De Muestreo Para La Inspección De Lotes Aislados Indexados Por Calidad Límite (LQ). Santiago, Chile: Instituto Nacional de Normalización, 1999.
Citace podle MLA (9th ed.)Instituto Nacional de Normalización. Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: Procedimientos De Muestreo Para Inspección Por Atributos - Planes De Muestreo Para La Inspección De Lotes Aislados Indexados Por Calidad Límite (LQ). Instituto Nacional de Normalización, 1999.