APA (7th ed.) Citation

Instituto Nacional de Normalización. (1999). Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ). Instituto Nacional de Normalización.

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Instituto Nacional de Normalización. Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: Procedimientos De Muestreo Para Inspección Por Atributos - Planes De Muestreo Para La Inspección De Lotes Aislados Indexados Por Calidad Límite (LQ). Santiago, Chile: Instituto Nacional de Normalización, 1999.

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Instituto Nacional de Normalización. Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: Procedimientos De Muestreo Para Inspección Por Atributos - Planes De Muestreo Para La Inspección De Lotes Aislados Indexados Por Calidad Límite (LQ). Instituto Nacional de Normalización, 1999.