Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
محفوظ في:
| مؤلف مشترك: | |
|---|---|
| التنسيق: | غير معروف |
| اللغة: | الإنجليزية |
| منشور في: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| وصف مادي: | 27 p |
|---|