Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)

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書目詳細資料
企業作者:	Instituto Nacional de Normalización (autor)
格式:	未知
語言:	英语
出版:	Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
主題:	Muestreo PLANES DE MUESTREO Control de calidad
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