Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)

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Körperschaft: Instituto Nacional de Normalización (autor)
Format: Unbekannt
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
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