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Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)

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Bibliographic Details
Corporate Author:	Instituto Nacional de Normalización (autor)
Format:	Unknown
Language:	English
Published:	Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
Subjects:	Muestreo PLANES DE MUESTREO Control de calidad
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