Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Tác giả của công ty: Instituto Nacional de Normalización (autor)
Định dạng: Không biết
Ngôn ngữ:Tiếng Anh
Được phát hành: Santiago, Chile Instituto Nacional de Normalización 1999
Những chủ đề:
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự