Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Guardat en:
| Autor corporatiu: | |
|---|---|
| Format: | Desconegut |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
Sigues el primer a deixar un comentari!