Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Uloženo v:
| Korporativní autor: | |
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| Médium: | Neznámo |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Témata: | |
| Tagy: |
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