Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Wedi'i Gadw mewn:
| Awdur Corfforaethol: | |
|---|---|
| Fformat: | Anhysbys |
| Iaith: | Saesneg |
| Cyhoeddwyd: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Pynciau: | |
| Tagiau: |
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