Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Tallennettuna:
| Yhteisötekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Tuntematon |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
Lisää ensimmäinen kommentti!