Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Enregistré dans:
| Collectivité auteur: | |
|---|---|
| Format: | Inconnue |
| Langue: | anglais |
| Publié: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Sujets: | |
| Tags: |
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