Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
שמור ב:
| מחבר תאגידי: | |
|---|---|
| פורמט: | לא ידוע |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
היה/י הראשונ/ה לכתוב הערה!