Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
Պահպանված է:
| Համատեղ հեղինակ: | |
|---|---|
| Ձևաչափ: | Անհայտ |
| Լեզու: | անգլերեն |
| Հրապարակվել է: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Խորագրեր: | |
| Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Եղիր առաջինը, ով թողնում է մեկնաբանություն!