Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
保存先:
| 団体著者: | |
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| フォーマット: | 不明 |
| 言語: | 英語 |
| 出版事項: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| 主題: | |
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