Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
I tiakina i:
| Kaituhi rangatōpū: | |
|---|---|
| Hōputu: | Tē mōhiotia |
| Reo: | Ingarihi |
| I whakaputaina: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
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| Ngā marau: | |
| Ngā Tūtohu: |
Tāpirihia he Tūtohu
Kāore He Tūtohu, Me noho koe te mea tuatahi ki te tūtohu i tēnei pūkete!
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Me noho koe te mea tuatahi ki te waiho tākupu!