Norma Chilena Oficial NCh 2238. Of1999 ISO 2859-2: procedimientos de muestreo para inspección por atributos - planes de muestreo para la inspección de lotes aislados indexados por calidad límite (LQ)
-д хадгалсан:
| Байгууллагын зохиогч: | |
|---|---|
| Формат: | Үл мэдэгдэх |
| Хэл сонгох: | англи |
| Хэвлэсэн: |
Santiago, Chile
Instituto Nacional de Normalización
1999
|
| Нөхцлүүд: | |
| Шошгууд: |
Шошго нэмэх
Шошго байхгүй, Энэхүү баримтыг шошголох эхний хүн болох!
|
Хамгийн түрүүнд сэтгэгдэл үлдээх!